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关于四探针电阻测试仪,您需要知道这些
发布时间:2019-02-15 阅读:221
四探针电阻测试仪主机采用先进电路设计,所测数值更精、更快、更准(一代为传统式电路,缺点:体积大,速度慢,元器件繁多导致影响机器寿命)。本仪器电压档为自动调整,电流档为半自动.不清楚被测物体阻值时,可按菜单先选择100MA电流档进行自动搜索(电流可由高至低自动搜索,不能由低向高搜索),当选择好电流档后,电压会自动进行调整。关于四探针电阻测试仪,您需要知道这些:
 1、电阻率与方阻的概念 
电阻率:当某种材料截成正方体时,平行对面间的电阻值只与材料的类别有关,而与正方形边长无关,这种单位体积的阻值可以反映材料的导电特性,称为电阻率(体电阻率),记为:ρ,标准单位:Ω-m,常用单位Ω-cm
方块电阻:薄膜类导体、半导体材料截成薄层正方形时,平行对边间的电阻值只与材料的类别(电阻率)和厚度有关,而与正方形边长无关,这种单位面积的对边间的电阻值可反映薄膜的导电特性和厚度信息,称为方块电阻,简称方阻。记为:R □,标准单位:Ω/□
2、测试相关标准
(1)GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》
(2)SJT 10314-1992《直流四探针电阻率测试仪通用技术条件》
3、测试应用范围
数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。根据不同材料特性需要,配有多款测试探头:
(1)高耐磨碳化钨探针探头,测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;
(2)球形镀金铜合金探针探头,测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻;
(3)配合四端子测试夹具,测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻;
(4)专用探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。

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