粉体物性测试仪
粉末堆密度仪
粉体和颗粒特性测定仪
休止角测定仪
安息角测定仪
粉体松装密度测定仪
粉末振实密度仪
堆积密度测定仪
粉体特性综合测试仪
粉末流动性测试仪
表观密度测定仪
体积密度测定仪
粉体和颗粒性状分析仪
粉末摩擦特性测试仪
日本粉体比重测定器
分子筛堆积密度测定仪
磁性粉末松装密度测定仪
振动漏斗法松装密度仪
氟化铝和氧化铝流动时间测定仪
氟化铝流动性测定仪
氟化铝松装密度仪
粉体流动性休止角测试仪
颗粒剂休止角
自动粉末流动性测试仪
振实密度计
松装密度测定仪
粉体压实密度测试仪
振实体积密度测定仪
粉体振实密度仪
FZS4-4B振实密度测定仪
金属粉末流动性测定仪
斯柯特容量计松装密度测试仪
自然堆积松装密度计
堆积密度仪
堆密度计
浆状物表观密度测定装置
肥料堆密度(疏松)测定仪
膨胀珍珠岩堆积密度测定仪
ASTM D1895塑料表观密度仪
聚四氟乙烯树脂体积密度测试仪
塑料流动性测试仪
霍尔流速计
斯柯特容量计
工业碳酸纳堆积密度测定装置
水份测定仪,卤素水份仪
四探针法粉末电导率测试仪
颗粒强度测试仪
粉体特性测试仪
粉体物理特性测试仪
粉体综合特性测试仪
粉体流变仪
粉体剪切测试仪
表面电阻率测试仪
导体电阻率测试仪
电导率测试仪
粉末电阻仪
半导体电阻率测试仪
体积电阻率测试仪
表面和体积电阻测试仪
方块电阻测试仪
四探针电阻测试仪
四探针方阻测试仪
四探针电导率测试仪
双电测四探针测试仪
多功能四探针测试仪
四探针电阻率方阻测试仪
两探针电阻率测试仪
四探针电阻率/方阻测试仪
薄膜或涂层方块电阻测试仪
超低阻型电阻率/方阻测试仪
数字式四探针测试仪
半导体材料电阻率测量及电阻率测试仪
半导体橡塑电阻率测试仪
粉末电阻率测试仪
材料体积电阻率测试仪
材料电阻率和表面电阻率测试仪
固体体积电阻率及表面电阻率测试仪
绝缘材料电阻率测试仪
薄膜电阻率测试仪
高温电阻率测试仪
大电流电压降测试仪
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直流电压降测试仪
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高精度电压降测试仪
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电压降测试仪
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原理:依据米氏(Mie)光散射理论
j光散射现象:
光行进中遇到颗粒(障碍物)时,
将有部分偏离原来的传播方向:散射偏离的角度(散射角)与颗粒大小有关,粒子大散射角小,粒子小散射角反而大。
k激光粒度仪原理结构(图)
从激光器发出的激光束经显微镜聚焦,针孔滤波和准
直镜准直后,变成直径约10 mm的平行光束。该光束照
射到待测的颗粒上,一部分光被散射,散射光经付里
叶透镜后,照射到光电探测器阵列上,由于光电探测
器处在付里叶透镜的焦平面上,因此探测器上的任一
点都对应于某一确定的散射角,换句话说,即对应于某
一尺寸大小的粒子。探测器将投射到其上面的散射光能
线性的转换成电压,然后送给数据采集卡,卡将信号放
大,再经A/D转换后送入计算机,即可列表或画图得到
粉体的粒径的频率分布和积累分布。
注意:探测器能接收的散射角小于14°时,仪器
只能测量1 mm 以上的颗粒。通常光正入射(如上图)
的情况下,由于散射光在测量窗口玻璃表面的掠射和全
反射的影响,能被接收的前向散射光(空气中)的
散射角约为65 °,对应于0.2 mm 的测量下限。实际上,
付里叶镜头要接收如此大的散射角是非常困难的。
仪器制造商发展各种光学结构来扩展测量下限,如:
球面接收技术等。