粉体物性测试仪
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分子筛堆积密度测定仪
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氟化铝流动性测定仪
氟化铝松装密度仪
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肥料堆密度(疏松)测定仪
膨胀珍珠岩堆积密度测定仪
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聚四氟乙烯树脂体积密度测试仪
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工业碳酸纳堆积密度测定装置
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采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具,满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求,通过的测控软件可以显示出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
二、适用行业:
广泛用于:生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.