FT-330 GB/T 1551-2009四探针电阻率测试仪
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FT-330 GB/T 1551-2009四探针电阻率测试仪的详细资料 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪
一. 描述: 采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪 硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国家标准设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪 适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用AD芯片控制,恒流输出,选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表
FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪
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