产品分类
联系我们

公司名称:宁波瑞柯微智能科技有限公司

公司地址:浙江省宁波市江北区慈城镇张嘉路91弄9号

邮政编码:

公司电话:0574-27975197

公司传真:0574-87460769

电子邮件:18100127132@163.com

联 系 人:陈培珍 ( 女士 )

部门(职位):销售 经理

手机号码:18100127132(微信号码同步)

即时通讯:        

FT-400AHXM 化学转化膜表面电阻测试仪

FT-400AHXM 化学转化膜表面电阻测试仪
产品名称:FT-400AHXM 化学转化膜表面电阻测试仪
产品型号:FT-400AHXM
品牌:ROOKO瑞柯微
产品数量:
产品单价: 面议
日期:2024-04-28
FT-400AHXM 化学转化膜表面电阻测试仪的详细资料

FT-400AHXM化学转化膜表面电阻测试仪  
 一、功能介绍:

采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,实验室检验和分析用于涂覆铝和铝合金的化学转化材料;铝及铝合金化学导电氧化膜层,对表面接触电阻及电阻率测量要求.

PC软件操作界面,自动运行,自动测量样品厚度到千分位,实时分析样品在加压过程中电阻与压力的变化曲线图谱,可显示电阻,电阻率,电导率的变化图谱,自动生成报表.

FT-400AHXM化学转化膜表面电阻测试仪
二.参照标准:

1).MIL-DTL-81706B 25 October 2004用于涂覆铝和铝合金的化学转化材料;

2).NAVY QPL-81706-16(2)-2002  涂铝及铝合金的化学转化材料

3).AMS2474B(铝合金化学处理低电阻涂层,1982.01.01修订)标准规定的168小时中性盐雾试验,前后化学转化膜接触电阻测量.

4).QJ 487-1983铝及铝合金化学导电氧化膜层 标准 
FT-400AHXM化学转化膜表面电阻测试仪
三、参数资料

1.电阻率:10^-7~2×10^7Ω-cm
2.电 阻:10^-7~2×10^7Ω

3.电导率:5×10^-7~10^7s/cm

4.分辨率: 0.1μΩ 测量误差±(0.05%读数±5字)

5.测量电压量程: 2mV   20mV  200mV 2V 测量精度±(0.1%读数)

6.分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV

7.电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。
量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 误差:±0.2%读数±2字

8. PC软件界面:电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算、横截面、高度、曲线图谱、报表等.

9. 上下电极材质为:紫铜镀金材质,电极需经1000目以上金相砂纸磨平滑

10. 压力载荷200psi,准确度为2psi以内.

11. 上电极横截面积1平方英寸;下电极横截面积大于1平方英寸

12.加压方式:自动

13. 高度量程和精度:高度测量范围:0.001-10.001mm,测量分辨率0.001mm

14.温湿度范围:常温-50度;湿度:20%-98%

15.恒压时间:0-99.9S

16.标配标准件:a.标准校准电阻1个;b.标准高度校准件1个

17.测试方式:四端测量法 +自动测量

18. 工作电源:220±10% 50HZ/60HZ

 

相关产品

FT-100H 粉末自动压实密度仪 
FT-100H粉末自动压实密度仪 采用液压测量系统,7寸触摸屏和PC软件控制,荷重单元控制系统采集应力变化数据,可以设置压力、时间数据,位移由位移传感器直读,温湿度数据通过传感器获得,多位的芯片数据的分析,自动
FT-304B 半导电电缆纸表面/体积电阻率测试仪
FT-304B半导电电缆纸表面/体积电阻率测试仪液晶显示,自动读取电阻,电阻率数据,固定荷重压强 ,PC软件数据过程分析.
FT-3120 系列半自动四探针测试仪
FT-3120 系列半自动四探针测试仪四点探针标准测试方法,采用步进系统自动控制探头与样品接触,减少人为因素对测试结果的影响;参照A.S.T.M 标准;测量方块电阻、电阻率、电导率数据、PC软件采集和数据处理实现自动点
FT-3110 系列全自动四探针测试仪
FT-3110系列全自动四探针测试仪四点探针法,全自动化运行测量系统,PC软件采集和数据处理;参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻;可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择;可显示:方阻、电
FT-394C 手持式四探针电阻率测试仪
FT-394C手持式四探针电阻率测试仪1.自动量程2.准确稳定性.3.双电组合测试方法4.标准电阻校准仪器5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据.6.可显示5位数字.7.中、英文界面
FT-331 四探针电阻率测试仪
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国标设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

在线留言

主题 *
内容 *
公司名
联系人 *
联系电话 *
电子邮箱
QQ
阿里旺旺
验证问题 * 7+8等于多少?答案:15
 

在线客服


联系人:陈培珍
电话:18100127132(微信号码同步)